| 一种自恢复容SEU锁存器的设计 |
| 吴悠然;梁华国;王志;闫爱斌;黄正峰; |
| 关键词：锁存器设计;反馈冗余单元;C单元;低功耗;软错误 |
| 主要内容：随着集成电路工艺水平的不断提高、器件尺寸的不断缩小以及电源的不断降低,传统的锁存器越发容易受到由辐射效应引起的软错误影响。为了增强锁存器的可靠性,提出了一种适用于低功耗电路的自恢复SEU加固锁存器。该锁存器由传输门、反馈冗余单元和保护门C单 |
| 《微电子学》 2015,45(05):643-648 |
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