| 硬件复用的内建自测试结构设计 |
| 潘红兵;尹明;孙金明; |
| 关键词：内建自测试;测试生成;多输入特征分析 |
| 主要内容：现代数字集成电路因规模庞大而导致测试困难,内建自测试是一种有效的可测性设计技术;由于内建自测试在电路内部设计测试生成与分析模块,需要消耗额外的硬件资源;通过对测试生成与特征分析模块的结构分析,提出基于硬件结构复用的可重构逻辑块观测器,并基于 |
| 《计算机测量与控制》 2015,23(02):342-344+384 |
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