| 0.18μm自偏置锁相环抗单粒子辐射加固技术研究 |
| 周昕杰;郭刚;沈东军;史淑廷;陈嘉鹏; |
| 关键词：辐射效应;辐射加固;锁相环;单粒子扰动 |
| 主要内容：设计了一款抗辐射自偏置锁相环(PLL),对PLL电路中关键逻辑进行单粒子效应分析,找出敏感节点,再对这些节点进行加固设计。该PLL电路用SMIC 0.18μm 1P4MCMOS工艺实现了设计。加固后的电路在中国原子能科学研究院核物理研究所, |
| 《固体电子学研究与进展》 2016,36(04):318-323 |
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