| CMOS反相器低频噪声模型及可靠性表征研究 |
| 陈晓娟;陈东阳;吴洁; |
| 关键词：COMS反相器;低频噪声;可靠性;缺陷 |
| 主要内容：为了表征CMOS反相器的可靠性,从其负载电流和输出电压的特性入手,详细推导了一种基于载流子波动理论的低频噪声模型,并由实验数据验证了模型的准确性.由实验结果可知,负载电流功率谱密度随频率的增加而减小,遵循1/f噪声的变化规律;得到了负载电流 |
| 《电子学报》 2016,44(11):2646-2652 |
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