| JT54LS273型集成电路加速寿命试验研究 |
| 李文军; |
| 关键词：集成电路;阿伦尼斯模型;高温贮存 |
| 主要内容：本文介绍了加速寿命试验中最为常用的阿伦尼斯模型,并按该模型选择JT54LS273型集成电路变化最大的关键参数,求得元器件在常温贮存时的数学模型,以常温贮存数据作为评价元器件加速贮存寿命的主要依据。选择同型号、同品种的元器件,进行高温加速贮存 |
| 《甘肃科技》 2016,32(23):28-31 |
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