产业集群决策
 
半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法分析研究
 
马俊;
关键词：半导体集成电路;可靠性测试;数据处理
 
主要内容：探讨了半导体集成电路可靠性设计技术,分析了栅氧化层测试技术与数据处理方法,介绍了斜坡电压测试和介质击穿的实验两种方法,并给出了热载流子注入测试技术与数据处理方法。
 
《电脑编程技巧与维护》  2016,(10):52-53+60
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