| 边界扫描测试技术综述 |
| 张继伟;杨兵; |
| 关键词：集成电路;边界扫描;展望 |
| 主要内容：随着集成电路的快速发展,使得测试面临的问题也越来越多,在众多的测试技术中边界扫描测试越来越多的受到人们的关注。本文总结性的从边界扫描技术的研究现状,现如今已经取得的部分研究成果,以及边界扫描技术所面临的问题三方面进行介绍并总结,并对边界扫描 |
| 《电子世界》 2016,(10):34-36 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号