| 边界扫描测试系统的设计与实现 |
| 颜学龙;贾银涛; |
| 关键词：边界扫描;故障诊断;IEEE1149.1;测试控制器 |
| 主要内容：为了解决复杂电路板的测试点少和测试覆盖率低以及传统的测试设备体积大、成本高等问题,IEEE1149.1标准被公布并发展出了边界扫描技术。本设计以边界扫描技术为基础,开发出由测试软件、测试控制器以及目标电路板组成的边界扫描测试系统,并通过对目 |
| 《国外电子测量技术》 2016,35(06):82-85+91 |
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