| 边界扫描技术在板级可测性设计中的应用探索 |
| 李薇; |
| 关键词：边界扫描技术;板级测试;电路板 |
| 主要内容：随着硬件系统的规模不断庞大,其内部精度也逐渐增加,相关的测试工作难度越来越大,在这一过程中应用边界扫描技术则能够较好的解决这一问题。本文主要探讨了边界扫描技术的原理,从设计、优化等各个方便针对边界扫描技术在板级可测性设计中的应用。最终结果提 |
| 《电子测试》 2016,(05):35+34 |
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