| 采用Mult-tap标准单元PGV以获取精准的Power EM违例 |
| 蔡琰;季昊;施建安; |
| 关键词：电源电迁移;电源格点视图;Voltus |
| 主要内容：电源电子迁移(Power Electromigration,Power EM)检查在高性能芯片设计中起重要作用。在Voltus进行电源网格分析时,由于在每个标准单元的电源网格视图(Power Grid View,PGV)生成过程中通常只抽取 |
| 《电子技术应用》 2016,42(08):25-27 |
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