| 测试平台数据比对及相关问题分析 |
| 石志刚; |
| 关键词：J750测试机;T2000测试机;比对;一致性;重复性;差异 |
| 主要内容：在芯片产业链中,芯片测试环节是不可或缺的,是对芯片产品质量检验的重要手段之一。为了满足测试产能的需要,受各种因素影响,往往需要在不同测试平台进行产能扩展的活动,开发对应的测试程序。在芯片测试程序开发完成之后,需要对测试平台移植进行风险评估, |
| 《微处理机》 2016,37(06):15-18+23 |
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