| 代表扫描——一种低功耗可测试性设计结构 |
| 张玲;王伟征; |
| 关键词：数字集成电路测试;可测试性设计;扫描结构;低功耗测试;代表扫描 |
| 主要内容：传统扫描链将所有扫描单元串联,测试数据的移位路径较长,导致测试移位功耗较大.首次提出代表扫描结构,它将传统扫描链或子链中的触发器改造成环形移位寄存器,为每个环形移位寄存器遴选一个代表触发器,并将这些代表触发器串联,构成具有若干局部循环的代表 |
| 《中国科学:信息科学》 2016,46(04):511-522 |
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