| 低成本BIST映射电路的设计与优化 |
| 张玲;王伟征; |
| 关键词：内建自测试;映射电路;硬件开销 |
| 主要内容：低成本BIST利用映射电路对自测试线形反馈移位寄存器进行优化,将对故障覆盖率无贡献的测试向量屏蔽掉,有效提高了故障覆盖率,降低了测试功耗。映射电路的设计是低成本BIST设计的关键,为了降低其硬件开销和功耗、提高参数性能,该映射逻辑电路对测试 |
| 《微电子学》 2016,46(03):324-327 |
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