电磁脉冲对MMIC电路中MIM电容的损伤分析
 
董作典;宋燕;史广芹;韩宝妮;唐旭;何婷;

关键词:电磁脉冲;微波单片集成电路;金属-绝缘体-金属电容;失效分析
 
主要内容:电容失效是电子电路中常见的故障。通过对某QPSK调制器微波单片集成电路(MMIC)进行失效分析,确定了该产品出现的故障是由MIM电容引起的,进一步地通过故障原因排查和故障机理分析,得知该MIM电容故障是由电磁脉冲(EMP)引起的,最后通过设
 
《电子产品可靠性与环境试验》  2016,34(03):13-18
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