| 高阶ELIC制程管制重点和工具系统研究 |
| 周定忠;李清春; |
| 关键词：HDI;ELIC;制程管制;工具系统;对准度偏差 |
| 主要内容：高阶ELIC越来越多的应用在高端手机、平板电脑等消费电子产品中。文章主要研究100?m盲孔ELIC产品的制作,涉及关键工序控制方法和工具系统的处理,以使微盲孔的整体对准度偏差在±50?m,同时对HDI制作过程的品质管制工具进行讨论。 |
| 《印制电路信息》 2016,24(12):39-43+58 |
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