| 高性能计算机芯片测试技术概述 |
| 梁斌; |
| 关键词：芯片测试;可测型设计;内建自测试;扫描设计 |
| 主要内容：自从20世纪中叶以来,电子产业,尤其是半导体产业得到了飞快的发展。基于摩尔定律的描述,集成电路的集成度在不断上升,同时特征尺寸也在不断下降。特别是进入纳米及超高速发展的时代以来,电路的设计方法也由最初的全定制设计到后来的基于单元库的半定制设 |
| 《现代交际》 2016,(20):147-148 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号