| 恒定温度应力下的模拟IC加速退化试验研究 |
| 吴兆希;李晓红;邓永芳;蔡建荣;杨少华; |
| 关键词：加速退化试验;阿伦尼斯模型;激活能;驱动器 |
| 主要内容：研究了在不同恒定温度应力条件下某型号驱动器的模拟集成电路的加速退化试验。首先,确定了该型驱动器的敏感参数,并建立了敏感参数的退化模型;然后,计算得到了器件在加速应力下的伪寿命;最后,利用阿伦尼斯模型对伪寿命数据进行分析,外推得到了器件的激活 |
| 《电子产品可靠性与环境试验》 2016,34(03):45-48 |
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