| 基于ATE的电源芯片Multi-Site测试设计与实现 |
| 唐彩彬; |
| 关键词：CTA8280;CP测试;Multi-Site;测试效率 |
| 主要内容：介绍了电源芯片的多Site测试设计与实现。基于CTA8280测试系统,通过对芯片CP(晶圆测试)要求进行分析,设计了8 Site测试电路外围,能够实现对晶圆进行8 Die并行测试。测试结果显示,该方案能够有效提升该电源芯片的测试效率,降低测 |
| 《电子与封装》 2016,16(11):14-17+26 |
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