| 基于FinFET的IC产品的设计和测试 |
| Carey Robertson;Steve Pateras; |
| 关键词：FinFET;设计流程;晶体管;纳米;半导体三极管;晶圆代工;栅极;解析器;IC |
| 主要内容：FinFET晶体管的兴起对IC物理设计和可测试性设计流程具有显著影响。引入FinFET意味着在IC设计流程中,CMOS晶体管必须建模为三维(3D)器件,同时,也带来了一系列的复杂性和不确定性。加州大学伯克利分校器件组的BSIM小组开发了一个 |
| 《中国集成电路》 2016,25(08):37+80 |
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