| 基于IDDQ测试的VLSI门内电阻式桥接故障仿真 |
| 许爱强;唐小峰;牛双诚;杨智勇; |
| 关键词：超大规模集成电路(VLSI)测试;电阻式桥接故障;静态电源电流(IDDQ)测试; |
| 主要内容：为真实模拟集成电路中的桥接故障并评价测试集质量,提出一种基于静态电源电流(IDDQ)测试的逻辑电路门内电阻式桥接故障仿真算法.首先,针对该故障类型,提出一种覆盖率评价标准;其次,利用电路级故障注入与仿真方法构造基本逻辑门单元的故障字典;最后 |
| 《北京工业大学学报》 2016,42(01):128-133 |
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