| 基于IDDT标准差和偏斜度的故障诊断方法 |
| 熊波;潘强;文申平;王小东; |
| 关键词：IDDT;标准差;偏斜度;概率神经网络;CMOS电路 |
| 主要内容：以CMOS电路动态电流(IDDT)为研究对象,提出了一种针对IDDT测试信号数据的预处理方法。该方法从统计角度出发,通过计算故障电路IDDT的标准差和偏斜度得到故障特征。文中采用CMOS与非门电路进行仿真,将该方法与小波变换预处理方法进行对 |
| 《电子测量技术》 2016,39(05):163-166 |
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