基于IEC61508标准的功能安全芯片设计方法探讨
 
谷荧柯;崔同兵;任军;林子明;

关键词:功能安全;IEC61508;V模型;二取一冗余;锁步技术;冗余校验
 
主要内容:集成电路设计和制造技术的发展使得芯片级功能安全设计取得快速进步,功能安全芯片的开发、验证方法成为业界关注的热点。基于IEC61508标准,首先论述该标准的功能安全技术手段,归纳总结当前国际主流功能安全芯片的设计技术特性。其次基于IEC615
 
《铁路通信信号工程技术》  2016,13(05):1-5
全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp
仿站