| 基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究 |
| 颜学龙;何正亮;陈寿宏; |
| 关键词：CJTAG标准;JTAG标准;多TAPC结构 |
| 主要内容：以CJTAG标准和JTAG标准为依据,在深入研究这两个标准的基础上,利用Quartus II开发平台和Verilog HDL语言设计了多TAPC结构,并用Modelsim进行仿真验证,结果表明多TAPC结构能够有效地对多TAPC芯片进行测试 |
| 《微电子学与计算机》 2016,33(12):71-74+79 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号