| 基于IEEE 1500标准的IP核测试壳的设计与验证 |
| 冯燕;陈岚;王东;赵新超;彭智聪; |
| 关键词：IEEE 1500标准;SoC测试;测试壳;自动生成 |
| 主要内容：IEEE 1500标准对测试壳行为和芯核测试语言进行规定,可有效解决嵌入式IP核测试复用的问题.研究了IEEE 1500标准的测试机制,以ISCAS’89Benchmark S349电路为例,详细设计了符合IEEE 1500标准的测试壳,并 |
| 《微电子学与计算机》 2016,33(07):110-114 |
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