| 基于NIOS II嵌入式系统的芯片自动测试系统设计 |
| 刘忠超; |
| 关键词：NIOS II;嵌入式系统;集成电路;自动测试系统 |
| 主要内容：随着国内芯片产业的不断发展,芯片供货需求大,但是批量测试无法满足供货要求,为此,该文提出一种基于NIOS II嵌入式系统的芯片自动测试系统设计。NIOS II是Altera公司推出的一种高效、灵活的可编程片上系统,由内置NIOS II软核处 |
| 《电子质量》 2016,(12):84-87 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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