| 基于TDS系统的超大型测试向量生成技术研究 |
| 石志刚;刘伟;金兰;吉国凡; |
| 关键词：芯片测试系统;系统架构;向量生成;优化;压缩;模块化 |
| 主要内容：超大型测试向量生成技术是数字电路芯片测试中的难点,对芯片测试效率和产品良率都有较大影响。介绍一种基于TDS向量生成系统的超大型测试向量生成技术。阐述了TDS向量生成系统的体系结构,以某超大型测试向量的生成过程为例,介绍该系统使用模块化方式生 |
| 《微处理机》 2016,37(05):17-20+24 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号