| 基于V93000 ATE的MTL生成功能码的方法 |
| 赵桦;王征宇;李锴; |
| 关键词：测试技术;ATE;MTL;功能码 |
| 主要内容：随着信息科学和产业的发展,集成电路为人们广泛应用。在今天的超大规模集成电路特别是在系统芯片SOC设计中,将大量存储器嵌入在片中的设计方法已经非常普遍。存储器的测试是集成电路测试一个十分重要的内容。V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平 |
| 《电子与封装》 2016,16(04):18-20+33 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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