| 基于Viterbi的低功耗确定性测试方案 |
| 陈田;易鑫;郑浏旸;王伟;梁华国;任福继;刘军; |
| 关键词：低功耗测试;测试数据压缩;分段相容编码;Viterbi算法 |
| 主要内容：随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻位之间的一致 |
| 《计算机辅助设计与图形学学报》 2016,28(05):821-829 |
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