| 基于边界扫描技术实现电路板全面测试 |
| 陆云云; |
| 关键词：边界扫描;互联测试;簇测试 |
| 主要内容：板级边界扫描测试技术,也就是IEEE-1149.1标准在电子行业得到了广泛的认可。对于一个特定的电路设计项目,为了实现最高的测试覆盖率和最优的测试性能,详尽的可测试性分析是不可或缺的。边界扫描的可测试性设计不仅仅是选择支持JTAG扫描链的芯 |
| 《国外电子测量技术》 2016,35(09):1-5 |
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