基于多扫描链的片上网络测试集归并方法
 
黄贵林;郑尚志;吴其林;

关键词:测试集;扫描链;归并
 
主要内容:电路集成度在不断上升,电路测试的数据量也越来越大,为解决因此造成的自动测试设备(ATE)存储容量和带宽之间的矛盾,提出了一种复用片上网络(No C)架构,多扫描链测试集归并算法,提高了测试可访问性。将扫描链长度长但数量相同的测试集合并短的测
 
《自动化应用》  2016,(10):24-26+28
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