| 基于嵌入式的IC芯片外观质量检测系统设计 |
| 陈文凤;张淼;欧幸福;李本红; |
| 关键词：嵌入式;集成芯片;引脚缺陷检测 |
| 主要内容：为解决人工检测集成芯片引脚存在的诸多弊端,设计一套基于ARM-DSP双核结构的集成芯片引脚缺陷自动检测系统。采用阈值分割算法提取芯片引脚目标,通过灰度跃变检测引脚中心点,并统计引脚中点间距以识别芯片引脚缺陷;设计实现图像采集电路、图像处理电 |
| 《电子制作》 2016,(09):43-44 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号