| 基于任意环境下的动态测试系统设计 |
| 王禹辉;于东阳; |
| 关键词：测试;环境;程序;单片机;上位机;下位机 |
| 主要内容：芯片广泛应用于计算机、办公自动化设备、工业仪器仪表、航天等领域,涉及到国民经济各行各业。芯片的工作稳定受到越来越多的关注,而使用之前的测试是保证芯片可靠的重要环节。以动态测试方法为例,扼要介绍芯片在任意环境下的测试方法,并解析测试过程中的注 |
| 《微处理机》 2016,37(03):10-12+16 |
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