| 基于四值脉冲参数模型的单粒子瞬态传播机理与软错误率分析方法 |
| 李悦;蔡刚;李天文;杨海钢; |
| 关键词：超大规模集成电路;软错误率;单粒子瞬态;四值脉冲参数;故障传播概率 |
| 主要内容：随着工艺尺寸的不断缩小,由单粒子瞬态(Single Event Transient,SET)效应引起的软错误已经成为影响宇航用深亚微米VLSI电路可靠性的主要威胁,而SET脉冲的产生和传播也成为电路软错误研究的热点问题。通过研究SET脉冲在 |
| 《电子与信息学报》 2016,38(08):2113-2121 |
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