基于文献统计方法的多芯片模块技术评价研究
 
吕旭波;黄姣英;高成;王香芬;

关键词:技术成熟度;技术成熟度等级评价;文献统计方法;逻辑回归;多芯片模块
 
主要内容:在技术成熟度的评价过程中,现有的TRL(技术成熟度等级)评价方法、TRIZ(发现并解决问题的理论)评价法以及性能预测法均存在有效数据缺乏和评价结果不够精确等不足。采用了基于文献统计的方法,探索技术成熟度的评价方法及实施流程。研究技术指标的构
 
《电子与封装》  2016,16(05):18-22
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