| 基于相同数据位的SoC测试数据压缩方法 |
| 黄贵林; |
| 关键词：数据块;测试数据;压缩;无关位 |
| 主要内容：随着VLSI技术的不断发展,集成电路所需的测试数据量也在不断增加,给测试带来了一系列问题,对自动测试设备(ATE)的存储容量提出了挑战,有限的带宽延长了测试数据传输时间。为此,提出了一种针对相同数据位的测试数据压缩及解压算法。数据位为全0或 |
| 《巢湖学院学报》 2016,18(06):15-19 |
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