| 基于芯核分层布图的3D芯片扫描链优化设计 |
| 王伟;朱侠;方芳;秦振陆;郭二辉;任福继; |
| 关键词：芯核分层布图;绑定前测试;绑定中测试;协同优化;扫描链均衡;硬件开销 |
| 主要内容：随着3D堆叠技术的不断发展,芯片测试已成为一大研究热点。为了减少三维堆叠集成电路(three dimensional stacked integrated circuits,3D-SICs)绑定前和绑定中的总测试时间,提出了基于芯核分层布图 |
| 《电子测量与仪器学报》 2016,30(10):1482-1489 |
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