| 基于专利计量的集成电路制造技术创新能力分布研究 |
| 刘云;闫哲;程旖婕;谭龙; |
| 关键词：集成电路制造;专利计量分析;技术创新能力;国际比较 |
| 主要内容：通过建立集成电路制造技术领域分类体系,确定专利信息检索策略,对德温特专利数据库进行专利信息下载、清理,采用专利计量方法,分析了1974—2013年全球集成电路制造各技术领域专利的时间分布特征,探讨了各技术领域的创新发展趋势;通过"专利地位— |
| 《研究与发展管理》 2016,28(03):47-54 |
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