| 集成电路边界扫描测试系统中测试方式选择模块的电路设计 |
| 陈翎;潘中良; |
| 关键词：集成电路;边界扫描;TAP控制器;测试方式选择 |
| 主要内容：集成电路规模的不断增加,使测试的开销在产品总成本中所占的比重越来越大,测试的过程更为复杂,因此对电路芯片需要采用边界扫描测试进行可测性设计。对边界扫描控制器中的测试方式选择TMS模块的功能进行了详细说明,给出了该模块的电路设计方法与步骤。通 |
| 《装备制造技术》 2016,(07):23-27 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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