| 集成电路可测试性设计与验证 |
| 吴立斌; |
| 关键词：集成电路;DFT;边界扫描测试;设计验证 |
| 主要内容：文章介绍了集成电路系统芯片(So C)以及IP核相关理论知识,对DFT集成电路可测试性设计进行了概述,给出了几种常用IC产品的测试方法,并对以后DFT可测试性设计的发展进行了论述;提出了一种基于图像处理的多级滤波芯片DFT测试进行分析,给出 |
| 《无线互联科技》 2016,(11):113-114+132 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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