考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的锁存窗屏蔽模型
 
闫爱斌;梁华国;黄正峰;蒋翠云;易茂祥;

关键词:锁存窗屏蔽;脉冲叠加;多时钟周期;扇出重汇聚
 
主要内容:集成电路工艺水平的提升,使得由单粒子瞬态脉冲造成的芯片失效越发不容忽视.为了准确计算单粒子瞬态脉冲对锁存器造成的失效率,提出一种考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的锁存窗屏蔽模型.使用提出的考虑扇出重汇聚的敏化路径逼近搜索算法查找门节点到达锁存器的
 
《电子学报》  2016,44(12):3011-3019
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