| 考虑扇出重汇聚效应的组合电路软错误率评估 |
| 闫爱斌;梁华国;许晓琳;袁德冉; |
| 关键词：单粒子瞬态;逻辑屏蔽;扇出重汇聚;软错误率;失效概率 |
| 主要内容：为了准确评估集成电路的软错误率(soft error rate,SER),文章提出一种新颖的电路SER评估方法。通过门级仿真获得逻辑门输出信号,将产生瞬态故障的逻辑门进行故障注入,然后使用考虑扇出重汇聚的敏化路径逼近搜索算法查找不同输入向量 |
| 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 2016,39(10):1341-1346 |
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