| 考虑设计参数扰动的芯片多元参数成品率预测算法（英文） |
| Xin LI;Jin SUN;Fu XIAO; |
| 关键词：成品率预测;参数扰动;多元参数成品率;性能建模;稀疏表示 |
| 主要内容：随着芯片制造工艺的进步,工艺参数、供电电压及片上温度(Process,voltage,and temperature,PVT)等设计参数扰动已成为芯片设计过程的棘手问题,其所产生的性能指标间相关性将导致芯片参数成品率显著下降。但是,当前芯片 |
| 《Frontiers of Information Technology & El》 2016,17(12):1344-1360 |
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