| 可测性设计测试向量低功耗设计方法 |
| 胡海涛;钟明琛;陈大为;陈莉; |
| 关键词：可测性设计;低功耗;X-Fill;时钟门控 |
| 主要内容：随着半导体工艺尺寸的不断缩小和芯片集成度的提高,大规模、高性能处理器中的测试面临着许多严峻的挑战,其中,测试功耗已经成为大规模、高性能处理器生产测试中的关键性问题。可测性设计中的功耗较常规功能模式下的的功耗更高,过高的测试功耗高会导致芯片结 |
| 《电子测量技术》 2016,39(11):46-50 |
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