空间反符合杯测量系统电子读出电路的设计
 
李肖;张珅毅;张伟杰;

关键词:反符合;粒子探测;前置放大器;A225F
 
主要内容:为消除空间粒子测量中干扰粒子对粒子探测器测量精度的影响,空间反符合杯测量技术得到广泛应用。本文介绍了空间干扰粒子的来源及反符合杯测量系统的原理,针对系统测试需求,基于A225F芯片对系统输出脉冲读出电路进行了设计,并对A225F芯片的使用做
 
《电子设计工程》  2016,24(01):187-190
全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp
仿站