| 某型混合集成电路长期贮存寿命研究 |
| 李坤兰;青林; |
| 关键词：混合集成电路;贮存试验;性能参数;贮存寿命;预测 |
| 主要内容：目的研究某型混合集成电路在自然环境下的贮存寿命。方法选用某型混合集成电路在A(寒温)、B(亚湿热)、C(亚湿热)、D(热带海洋)等4地开展为期172个月的库房贮存试验,跟踪测试其性能参数增益。应用灰色预测理论中的灰色GM(1,1)模型,对该 |
| 《装备环境工程》 2016,13(06):110-113 |
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