| 纳米尺度互连线寄生参数的仿真及应用于CMOS射频集成电路设计 |
| 苏晓;刘宝宏;陈瑛;郭玄灜; |
| 关键词：纳米尺度互连线;集总参数模型;电路仿真;CMOS射频集成电路设计 |
| 主要内容：本文给出了一种应用于电路版图仿真的互连线寄生参数模型。该模型基于物理现象的集总参数模型,模型各个参数都可以采用电磁场仿真软件提取得到。文中分析了模型的仿真精度,并通过仿真显示该模型有效性。最后,对该互连线的寄生参数模型应用于CMOS集成电路 |
| 《数字技术与应用》 2016,(10):176-177 |
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