融合IEEE1149.X标准的混合信号测试系统设计
 
张玲莉;刘传波;廖军;

关键词:混合信号检测;边界扫描;IEEE1149.X;组合测试
 
主要内容:集成电路的高复杂度和装配的高密度,使得只用单一的IEEE1149标准来进行电路的自测试已经不能满足需要,在研究IEEE1149.1、.4和.5三种标准的差异性和组合应用准则的基础上,设计了融合三种标准进行混合信号多级扫描的方法。并通过实验平
 
《电子技术》  2016,45(06):86-89
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