| 软错误率变动对检查点机制的影响 |
| 贾文涛;张春元; |
| 关键词：容错;软错误;错误变动性;检查点;自适应 |
| 主要内容：随着集成电路工艺进入纳米时代,芯片正面临着软错误的威胁.除了软错误在数量上的威胁外,处理器还面临着由于工艺变动性和电压、温度、位置等工作环境变动而导致的错误率变动性的威胁,即系统的错误率不会一直稳定而是随着时间发生变化.检查点是系统容错的主 |
| 《计算机学报》 2016,39(09):1790-1800 |
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