| 三维IP核绑定前后总测试时间的优化方法 |
| 刘军;钱庆庆;吴玺;王伟;陈田;任福继; |
| 关键词：三维IP核;测试外壳扫描链;绑定前测试时间;绑定后测试时间 |
| 主要内容：为了减少三维IP(Intellectual Property)核绑定前和绑定后的测试总时间,提出了一种测试外壳扫描链优化方法。方法首先将三维IP核的所有扫描元素投影到一个平面上,用BFD算法将扫描元素分配到各条测试外壳扫描链,以减少绑定后的 |
| 《计算机工程与应用》 2016,52(22):44-48+54 |
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