| 数字集成器件测试仪的研制与设计 |
| 刘春梅;曹文; |
| 关键词：AT89S52;数字集成器件;芯片检测;上位机 |
| 主要内容：文章采用AT89S52单片机作为主控芯片,设计了一种能够对常用的TTL和CMOS集成器件进行测试的数字集成器件测试仪,该仪器可实现对已知型号的集成器件质量测定以及对未知型号器件的功能识别;测试结果用LCD液晶模块显示;同时系统还设计有完善的 |
| 《江苏科技信息》 2016,(08):53-54 |
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